Канадские ученые нашли способ выявлять наноразмерные дефекты
Новую методику обнаружения сверхмалых дефектов в материале предложили канадские ученые из университета Макгила, сообщает 5 августа пресс-служба университета.
При помощи атомно-силовой микроскопии исследователи обнаружили дефекты на изолирующем нелинейном оптическом материале (LiNbO3), а также на чешуйке нанометровой толщины полупроводника диселенида молибдена (MoSe2) — неорганическом соединении, используемом в оптической и сканирующей зондовой микроскопии.
«Новая технология применима к любым материалам — металлам, полупроводникам или изоляторам. Она позволит использовать высокое пространственно-временное разрешение для изучения, понимания и, в конечном счете, улучшения материалов. В будущем это улучшит сразу весь спектр технологий», — заявили ученые.
Ранее обнаруживать дефекты, размеры которых исчисляются нанометрами, не представлялось возможным, поскольку для их обнаружения использовались световые импульсы, проходящие свой путь быстрее, чем пройдет 100 фемтосекунд. Причем работали этими импульсами на больших площадях. Новый метод позволяет обрабатывать крошечные точки еще более быстрыми импульсами света, что позволяет определять силы, действующие в этих точках с огромной точностью. А по этим силам и определяются свойства материала.
