Новый метод проектирования оптических систем предложили ученые из Китая

Комплексный метод проектирования отражающей оптической системы с низкой чувствительностью к ошибкам наклона предложили исследователи из Чанчуньского института оптики, точной механики и физики (CIOMP) Китайской Академии наук (CAS), 18 января сообщает Phys.org.

Отражающая оптическая система с большой диафрагмой и большим фокусным расстоянием имеет преимущества, связанные с небольшим количеством оптических элементов и простой оптической схемой. Но внутренняя аберрация и аберрация, вызванная несоосностью, экспоненциально возрастают с увеличением фокусного расстояния и размера диафрагмы, что приводит к значительному ухудшению качества изображения оптической системы при небольшой несоосности.

Новый метод не только позволяет оптимизировать производительность системы обработки изображений и контролировать чувствительность оптической системы к ошибкам наклона, но также дает возможность учитывать равномерность чувствительности каждого зеркала системы.

Используя свойства геометрической оптики, исследователи создали модели математического анализа однозеркальной системы и двухзеркальной системы.

Основываясь на теоретических результатах, они предложили функцию оценки чувствительности оптической системы к ошибкам наклона и разработали метод проектирования десенсибилизации отражающей оптической системы.

Для проверки метода, ученые взяли в качестве примера трехзеркальную оптическую систему с фокусным расстоянием 100 мм и числом F 5 и сравнили чувствительность двух систем к ошибкам наклона до и после десенсибилизации.

Результаты показали, что этот метод эффективен.